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LED失效,靜電擊穿

2017/09/29





將不良樣品用單顆機進(jìn)行電性測試,測試條件:IF=20mA,VR=5V,測試狀況如下:
  (VF規格:2.7—4.0V,IR規格: ≤10uA)
 
由以上測試結果可知,2PCS材料的VF、IR不在規格內,7PCS材料IR值超出規格,
3PCS材料VF、IR符合規格要求,經(jīng)確認為良品。

2.抽樣4PCS不良樣品進(jìn)行研磨分析,確認其焊線(xiàn)狀況,圖片如下:
由以上圖片可知,線(xiàn)弧良好,符合我司規格要求。
2.3.將不良樣品進(jìn)一步溶膠,然后用小電流點(diǎn)亮確認其發(fā)光狀況,發(fā)現晶片表面發(fā)光不均
存在嚴重的暗區(紅色圈標示處),不良圖片如下:
 
由以上圖片可知,晶片點(diǎn)亮時(shí)有發(fā)光不均勻的現象,表面存在嚴重的暗區,此不良現象為靜
電擊傷所致。我司機臺、桌面都有接地,作業(yè)時(shí)都有戴靜電環(huán)及吹離子風(fēng)扇,不會(huì )造成材被
靜電擊傷的現象。

3.分析結論
由以上分析可知,客戶(hù)反應的缺亮及IR為靜電擊傷所致。
4.建議請客戶(hù)確認在檢驗及使用過(guò)程中是否做好靜電防護措施。(如機臺、桌面是否接地,作業(yè)人員操作時(shí)是否戴靜電環(huán)及吹離子風(fēng)扇等)
 

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