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數碼管字節缺亮現象

2017/09/29




1.外觀(guān)檢驗
顯微鏡下觀(guān)察樣品外觀(guān)情況,該樣品中正面和反面均無(wú)明顯破壞痕跡,客戶(hù)有過(guò)錫使用過(guò)。

2.電性測試
在測試機上對客戶(hù)回饋的樣品進(jìn)行電性測試,發(fā)現樣品A字節缺亮。

3. 溶解分析
將燈珠進(jìn)行溶解分析,溶開(kāi)環(huán)氧樹(shù)脂后觀(guān)察發(fā)現不良品字節晶片/金線(xiàn)存在燒損現象,如下圖:
  
4.原因分析
根據以上分析:客戶(hù)回饋樣品已經(jīng)焊錫使用過(guò),樣品A字節存在缺亮(開(kāi)路)現象,其他字節電性測試均為正常;
溶解過(guò)后,發(fā)現A字節的晶片和金線(xiàn)均存在燒損現象。

5.總結 :樣品溶解后發(fā)現A字節晶片和金線(xiàn)燒損,可判定為:客戶(hù)在LED使用過(guò)程中,電路中有(瞬間)大電流/通過(guò)LED晶片,導致晶片燒損的現象。
 建議 還請客戶(hù)排查制程中是否存在隱患

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